Data/hora: 14/05/2024 03:36:04

Biblioteca(s): | Embrapa Roraima.
Data corrente: | 07/04/2006
Data da última atualização: | 07/04/2006
Autoria: | SANTOS, J. M. dos.
Título: | Microscópia eletrônica de varredura aplicada às ciências biológicas.
Ano de publicação: | 1996
Fonte/Imprenta: | Jaboticabal: UNESP, 1996.
Páginas: | 56 p.
Idioma: | Português
Conteúdo: | I PARTE. Poder de resolução. Súmula histórica da microscopia eletrônica. Teoria da microscopia eletrônica de varredura. Interação do feixe primário de elétrons com o espécimen. Formação da imagem no MEV. Ampliação da imagem no MEV. Fatores que influenciam a qualidade de imagem. Estéreo elétrom-micrografias. Orientação do espécimen em relação ao detector. influência da descarga ("charge-up") sobre a qualidade da imagem. Preparação de espécimens para a microscopia eletrônica de varredura. Limpeza do espécimen. Fixação. Desidratação. Secagem do espécimen. Montagem da amostra. Metalização. Noções básicas sobre a fotografia. Teoria básica. II PARTE. Como ligar a máquina. Como inserir ou trocar um espécimen. Alinhamento do MEV. Saturação do filamento. Correção do astigmatismo. Tomando elétrons-micrografias ("fotografando"). Como trocar o filme na máquina. desligando  o MEV. Revelação do filme. copiando elétron-micrografias (=fazendo as "fotos"). Técnica de remoção da imagem. Materiais necessários: procedimento. Preparo de soluções-tampões. Instruções para operação do secador de ponto crítico (SPC) marca TOUSIMIS 780 A. Instruções para operação do metalizador JEOL ION SPUTTER JFC- 1100. Cuidados recomendados no manuseio de tetróxido de ósmo.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Roraima (CPAF-RR)
Exemplares: | CPAF-RR - (6336-1) - ADD - LV - -- - 502.825 - S231m - 2006.02306 - DIS